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HIOKI C測試儀 3506-10 對應1MHz測試, 低容量,高精度,高速測試 模擬測量時間0.6ms(1MHz)的高速測量 提高了抗干擾性，在產線的上也能實現高反復精度 1kHz、1MHz測量下，低電容的貼片時可穩定測量 根據BIN的測定區分容量
HIOKI U8793 任意波形發生單元2ch任意波形信號輸出；可最大15V輸出用存儲記錄儀測量到的異常波形信號；可最大15V輸出自定義的任意的波形信號；和存儲記錄儀組合使用
HIOKI MR8791 脈沖發生單元可8ch輸出的脈沖波形信號；和存儲記錄儀系列組合使用；各通道和外殼之間絕緣
HIOKI MR8790 波形發生單元4chDC，和最大20kHz的正弦波信號輸出；信號輸出±10V, 5mA；和存儲記錄儀系列組合使用；各通道之間，以及通道和外殼之間絕緣
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