AQ6373E可見波長光譜分析器

橫河測試與測量公司的AQ6373E可見波長光譜分析器提供高速、精確的350到1200納米短波長分析。

這款多功能OSA具有三種可供選擇的型號，可滿足各種應(yīng)用的需求，可加速短波長激光器、無源器件和LED的開發(fā)和制造，以及用于生物醫(yī)學(xué)、材料加工、消費品和電信市場的設(shè)備。

AQ6373E可見波長光譜分析器

• 適用于短波長范圍應(yīng)用的三種型號:標準型、高分辨率型、有限型

• 波長范圍:350-1200納米（所有型號）

• 波長分辨率

• 標準:0.02納米-10納米

• 高分辨率:0.01 nm-10 nm（從350 nm到600 nm的分辨率為0.01 nm ）

• 限值:0.1 nm-5 nm

• 波長精度

• 標準:±0.05 nm（633 nm），±0.2 nm （400 - 1100 nm）

• 高分辨率:±0.05 nm（633 nm），±0.2 nm （400 - 1100 nm）

• 限值:±0.05 nm（633 nm），±0.2 nm （400 - 1100 nm）

• 閉合動態(tài)范圍

• 標準值： 60 分貝（λ 峰值 ±0.5 nm ）

• 分辨率： 60 dB （λ 峰值 ±0.5 nm ）

• 45 dB （λ 峰值 ±0.5 nm ）

• 敏感度

• 標準:-80 dBm（500 - 1000 nm）

• 高分辨率:-80 dBm（500-1000 nm）

• 限制:-70 dBm（500 - 1000 nm）

• 測量水平范圍

• 標準:100 dB（-80 - +20 dBm）

• 高分辨率:100 dB（-80 - +20 dBm）

• 限制:90 dB（-70 - +20 dBm）

• 最大安全輸入功率:20 dBm（550至1100納米）+10 dBm（400-500至550納米） （總輸入功率）

• 單模、多模和大芯光纖

• 內(nèi)置光學(xué)對準光源

• 使用外部參考源進行波長校準

• 各種分析功能，包括VIS的顏色分析

世jie級的光學(xué)性能

高分辨率和高動態(tài)范圍
良好的單色儀實現(xiàn)了高波長分辨率和高閉合動態(tài)范圍。憑借單色儀更銳利的光譜特性，可以清晰地分離近距離的光譜信號并進行精確測量。

高靈敏度
可以準確、快速地測量微弱的光學(xué)信號。

七種靈敏度設(shè)置*
靈敏度設(shè)置可根據(jù)測試應(yīng)用和測量速度要求進行選擇。
*xian量型號除外

高動態(tài)模式
可以通過減少雜散光的影響來提高動態(tài)范圍，雜散光是在輸入為強光信號時產(chǎn)生的。

峰值保持和外部觸發(fā)模式
脈沖光信號的脈沖峰值光譜是可測量的，常用于電信系統(tǒng)的傳輸回路測試，也用于激光芯片開發(fā)初期的低功耗測量，以捕捉脈沖信號的峰值功率。

空閑空間輸入
自由空間輸入可在相同的OSA上實現(xiàn)多模和單模光纖，且輸入連接器處的小插入損耗變化提高了測量的重復(fù)性。由于沒有身體接觸，在連接纖維時沒有損壞的結(jié)果。該功能支持SM、GI（50/125μm、62.5/125μm）和高達800μm的大芯光纖。

光學(xué)輸入結(jié)構(gòu)

快速掃描
憑借良好的單色器、更快的電路和降噪技術(shù)，AQ6373E即使在測量來自DFB-LD信號的陡峭光譜時，或在測量來自寬帶光源的低功率信號時，也能實現(xiàn)快速測量速度。

寬幅掃描，高分辨率
200，001個數(shù)據(jù)采樣點在一次掃描中擴展了測量范圍，同時保持高波長分辨率。這使您的測量比使用少量采樣點并需要多次部分測量以覆蓋整個波長范圍的傳統(tǒng)系統(tǒng)更容易和更高效。

易于精確維護
環(huán)境條件變化、振動和沖擊對光學(xué)精密產(chǎn)品（如光譜分析儀）的影響將影響光學(xué)元件，并最終降低光學(xué)性能。使用標準功能，AQ6373E可以在幾分鐘內(nèi)保持其高光學(xué)性能，以實現(xiàn)快速開始測量。

光學(xué)對準
使用內(nèi)置光源自動對齊單色器中的光路，以保持高性能。

波長校準
用外部光源自動校準光譜分析儀，確保波長精度。

內(nèi)置光學(xué)對準源
波長校準需要外部光源。需要GI 50/125 m光纖以及定期校準。在某些情況下，光學(xué)對準和波長校準功能不能校正光學(xué)性能。

縮略圖文件預(yù)覽
從內(nèi)部和外部存儲的數(shù)千個文件中輕松找到特定文件。

USB端口
四個USB端口方便使用外部設(shè)備，如鼠標、鍵盤、外部硬盤和記憶棒。

大屏幕觸摸屏液晶顯示器
響應(yīng)式高分辨率10.4英寸多點觸控電容觸摸屏使設(shè)備操作更加簡單和直觀。更改測量條件、執(zhí)行分析和更改光譜視圖，就像在操作平板設(shè)備一樣。在光譜視中，波形視圖可以通過簡單的點擊和拖動縮放或移動。

高級標記
添加標記以獲得zhi定頻譜的功率密度和集成功率。

頻譜分析
提供多種數(shù)據(jù)分析功能，涵蓋許多流行的應(yīng)用:

七條個人痕跡
用戶可以通過鼠標直接選擇軌跡，通過同時顯示多軌跡，并在軌跡之間使用最大/最小保持和計算（減除）。

內(nèi)置宏編程
創(chuàng)建自動測試系統(tǒng)，通過遠程接口執(zhí)行自動測量和控制外部設(shè)備。GP-IB和以太網(wǎng)（10/100Base-T）端口可用來通過PC進行遠程控制，并傳輸標準的SCPI兼容（ASCII代碼，符合IEEE-488.2）或?qū)Ｓ械腁Q6317兼容命令（模擬模式）。LabVIEW®驅(qū)動程序也可用。

面向DUT的測試應(yīng)用程序（APP）
應(yīng)用（APP）模式通過將AQ6373E OSA轉(zhuǎn)換為專用于被測設(shè)備（DUT）的機器，簡化了測試過程。APP模式提供了一個特定于DUT的用戶界面，它可以從配置設(shè)置導(dǎo)航到測試結(jié)果輸出，而無需擔(dān)心其他許多OSA設(shè)置。AQ6370系列包括多個預(yù)裝的基本應(yīng)用，如WDM、DFB-LD和FP-LD測試。該應(yīng)用程序也可從橫河測試與測量網(wǎng)站下載。